試驗(yàn)?zāi)康?/p>

　　空載損耗主要是指鐵芯因交變磁化所引起的磁滯損耗和渦流損耗(總稱鐵損)，其次還有空載附加損耗和空載電流流過(guò)繞組時(shí)產(chǎn)生的損耗，后兩項(xiàng)所占比重較小，可以忽略。因?yàn)殍F芯質(zhì)量差、片間絕緣不良、部分硅鋼片短路等原因，要引起空載損耗增加。另外，繞組匝間短路，并聯(lián)支路間短路、并聯(lián)支路匝數(shù)不等而在繞組中產(chǎn)生的環(huán)流損耗也要引起空載損耗增大。通過(guò)測(cè)量空載電流和空載損耗，分析它們的變化規(guī)律，就可以發(fā)現(xiàn)磁路中的局部或整體缺陷，也可以檢驗(yàn)繞組是否有匝間短路等各種缺陷，比如：鐵芯的磁阻過(guò)大、鐵芯疊片不整齊、硅鋼片間短路等。

　　試驗(yàn)接線

　　試驗(yàn)步驟

　　(1)非被試各二次繞組n端單端接地，一次繞組X端單端接地;

　　(2)將調(diào)壓器的電壓輸出端接至某個(gè)二次繞組(應(yīng)盡量選擇二次容量大的二次繞組)，在此接入測(cè)量用電壓表電流表。對(duì)于220kV互感器，若在1a-1n加壓則應(yīng)讀取11.5V、28.9V、46.2V、57.7V、69.3V、86.6V的測(cè)試值;若在da-dn加壓則應(yīng)讀取20V、50V、80V、100V、120V、150V的測(cè)試值;

　　(3)接線完畢，查線無(wú)誤后接通試驗(yàn)電源、開機(jī);

　　(4)參數(shù)設(shè)備：應(yīng)設(shè)置的試驗(yàn)可能輸出的最高電壓和最大電流，使測(cè)試發(fā)生異常時(shí)，輸出電壓或輸出電流任意一項(xiàng)達(dá)到設(shè)定值均停止試驗(yàn);升壓器設(shè)為內(nèi)置，工作人員做好記錄準(zhǔn)備;

　　(5)緩慢升壓，當(dāng)電壓升至需要測(cè)量值(按4.2中所示電壓)，讀出并記錄電壓、電流值;

　　(6)測(cè)量完畢，降壓，關(guān)機(jī)并斷開電源刀閘;

　　(7)對(duì)被試互感器高壓端接地放電，根據(jù)各測(cè)量點(diǎn)電壓和電流繪制出勵(lì)磁特性曲線。

　　試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

　　《電氣裝置安裝工程電氣設(shè)備交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》GB 50150-2006中規(guī)定：對(duì)于額定電壓測(cè)量點(diǎn)(100%)，勵(lì)磁電流不宜大于其出廠試驗(yàn)報(bào)告和型式試驗(yàn)報(bào)告的測(cè)量值的30%，同批同型號(hào)、同規(guī)格電壓互感器此點(diǎn)的勵(lì)磁電流不宜相差30%;

　　《國(guó)家電網(wǎng)公司輸變電設(shè)備狀態(tài)檢修規(guī)程2008》規(guī)定：對(duì)互感器對(duì)核心部件或主體進(jìn)行解體性檢修之后，或計(jì)量要求時(shí)，進(jìn)行勵(lì)磁特性試驗(yàn)。試驗(yàn)時(shí)，電壓施加在二次端子上，電壓波形為標(biāo)準(zhǔn)正弦波。測(cè)量點(diǎn)至少包括額定電壓的0.2、0.5、0.8、1.0、1.2倍，測(cè)量出對(duì)應(yīng)的勵(lì)磁電流，與出廠值相比應(yīng)無(wú)顯著改變;與同一批次、同一型號(hào)的其它電磁式電壓互感器相比，彼此差異不應(yīng)大于30%。

　　感應(yīng)耐壓前后均應(yīng)進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn)。在額定電壓下的空載電流與出廠值比較,應(yīng)無(wú)明顯差異，在高限電壓1.5Um/√3下，空載電流不應(yīng)大于最大允許電流。多倍頻感應(yīng)耐壓測(cè)試儀前后空載電流不應(yīng)有明顯差異。

　　試驗(yàn)注意事項(xiàng)

　　(1)用于勵(lì)磁曲線測(cè)量的儀表為方均根值表，若發(fā)生測(cè)量結(jié)果與出廠試驗(yàn)報(bào)告和型式試驗(yàn)報(bào)告有較大出入(>30%)時(shí)，應(yīng)核對(duì)使用的儀表種類是否正確;

　　(2)空載及伏安特性試驗(yàn)應(yīng)選用滿足測(cè)試電流要求的試驗(yàn)導(dǎo)線，以免影響試驗(yàn)結(jié)果;

　　(3)升至每個(gè)電壓點(diǎn)時(shí)，電壓和電流的讀取應(yīng)同時(shí)，防止因電壓波動(dòng)造成誤差增大;

　　(4)加壓時(shí)，連續(xù)緩慢升壓，不應(yīng)測(cè)試高電壓點(diǎn)后再返回測(cè)試低電壓點(diǎn)。

　　試驗(yàn)周期

　　對(duì)核心部件或主體進(jìn)行解體性檢修之后或計(jì)量要求時(shí)進(jìn)行本項(xiàng)目。